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本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种基于晶元片检测的集成式检测头组件，包括基座、连接柱，基座的底面两端均向外延伸形成四根独立的支撑条，探针组件包括探针定位板、探针阵列，探针定位板的底面两侧设有与限位槽配合的导向凸条；连接柱的下端...
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