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本发明公开了一种快速精准MOS器件热载流子测试结构，包括两个相同的相邻器件(6)，通过电流差分放大器，滤除温度影响，包括使用多组一样的器件取均值，降低工艺不均匀性带来的影响，包括使用多级缓冲器连接焊盘与栅极，增加驱动能力，可以使用交流应力进...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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