专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
株式会社迪思科
>
半导体锭的检查方法、检查装置和激光加工装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载半导体锭的检查方法、检查装置和激光加工装置的技术资料
文档序号:18945901
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
提供半导体锭的检查方法、检查装置和激光加工装置。半导体锭的检查方法具有:分离起点形成步骤,将对于半导体锭具有透过性的波长的激光束的聚光点定位在距离上表面相当于要生成的晶片的厚度的深度并且使聚光点与半导体锭相对地移动而对上表面照射激光束,形成...
该专利属于株式会社迪思科所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社迪思科授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。