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本发明所述的集成电路老化试验装置，包括用于加热试验器件的高温试验箱、用于进行老化试验的老化测试板、用于控制每个老化测试板的集成电路板、用于发出激励信号的信号发生器、用于提供可调直流电压的电源控制板、用于检测老化输入输出信号的信号检测器、用于...
该专利属于杭州可靠性仪器厂所有，仅供学习研究参考，未经过杭州可靠性仪器厂授权不得商用。

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