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本发明公开了一种内存芯片电路拓扑。所述内存芯片电路拓扑包含多个测试焊盘、多个接口焊盘、一功能块以及一内嵌式测试块。所述功能块耦接于所述多个接口焊盘。所述内嵌式测试块耦接于所述多个测试焊盘。所述内嵌式测试块通过所述多个接口焊盘连接于一存取端口...
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