专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
大连理工大学
>
一种可变带隙的AlCoCrFeNi高熵合金氧化物半导体薄膜及其制备方法技术
>技术资料下载
下载一种可变带隙的AlCoCrFeNi高熵合金氧化物半导体薄膜及其制备方法的技术资料
文档序号:18605020
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种可变带隙的AlCoCrFeNi高熵合金氧化物半导体薄膜及其制备方法,属半导体材料技术领域。这种薄膜具有如下通式:(AlyCoCrFeNi)1‑xOx,x=0.3~0.7,y=0~1.0,磁控溅射靶材Al:Co:Cr:Fe:Ni的原子比为...
该专利属于大连理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过大连理工大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。