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本发明提供一种单边侧入光式导光板缺陷提取方法，包括以下步骤：获取导光板图像、提取导光板本体图像、获取宽度M和高度N，缺陷快速检测、快速检测是否含有缺陷、去除噪声干扰、灰度变换、OTSU阈值分割、自动分区检测、遍历导光点区域像素的灰度范围、判...
该专利属于浙江理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江理工大学授权不得商用。

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