单边侧入光式导光板缺陷提取方法技术

本发明专利技术提供一种单边侧入光式导光板缺陷提取方法，包括以下步骤：获取导光板图像、提取导光板本体图像、获取宽度M和高度N，缺陷快速检测、快速检测是否含有缺陷、去除噪声干扰、灰度变换、OTSU阈值分割、自动分区检测、遍历导光点区域像素的灰度范围、判断导光板是否存在亮暗点、形态学处理、判断是否存在压伤或者异物、图像分割、判断是否存在导划痕缺陷和提取不合格品缺陷区域；本发明专利技术提出开发导光板自适应自动分区算法，根据表面导光孔的密集程度，自动划分不同的检测区域，并自动调整检测算法，实现缺陷的提取；该算法的运行效率高和准确率高，稳定性和鲁棒性强，不仅能够识别常见的缺陷，对于不常见的微小缺陷也具有比较高的检测能力。

Defect extraction method for single side light guide plate

The invention provides a defect extraction method for single side light guide plate, which includes the following steps: obtaining the image of the light guide plate, extracting the image of the guide plate, obtaining the width M and the height N, fast detection of the defect, fast detecting whether the defect is contained, the noise interference, the gray change, the OTSU threshold segmentation, the automatic partition detection, and the automatic partition detection. By traversing the gray range of the pixel in the light point area, judging whether there is bright dark point, morphological processing, judging whether there is a pressure or foreign object, image segmentation, whether there is a scratch defect and a defect area to extract the unqualified products. The intensity of surface guide holes automatically divides different detection regions and automatically adjusts detection algorithms to achieve defect extraction. The algorithm has high efficiency and accuracy, high stability and robustness. It can not only identify common defects, but also have high detection ability for uncommon small faults.

【技术实现步骤摘要】
单边侧入光式导光板缺陷提取方法
本专利技术涉及一种缺陷检测算法，具体为一种单边侧入光式导光板缺陷提取方法。
技术介绍
导光板(LightGuidePlate,LGP)是利用光学级的亚克力/PC板材，然后用具有极高反射率且不吸光的高科技材料，在光学级的亚克力板材底面用激光雕刻、V型十字网格雕刻、UV网版印刷技术印上导光点。LGP具有超薄、超亮、导光均匀、节能、环保、无暗区、耐用、不易黄化、安装维修简单快捷等鲜明特点，广泛应用于液晶显示器的背光源、超薄的广告灯箱、医疗用的X光看片器、平板型的灯饰照明、亮光工程的光效运用、发光标示牌等场合。在导光板的丝印制作、化学蚀刻、激光加工和撞点加工等生产制造过程中，由于原料成分、设备使用情况、加工工艺以及工人操作等因素的影响，其表面不可避免地会出现亮点、漏点、黑点、网面油墨、线刮伤、镜面点伤、暗影等加工缺陷。如果在液晶显示器的背光源、医疗用的X光看片器等上使用有缺陷的导光板，会影响其均匀发光，降低光的使用效率，更为严重的是对人的视力会造成损害。而且，随着设备高性能、高精度的发展，对导光板的材料特性、表面质量、结构形状、可靠性等方面的要求也越来越高。因本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.单边侧入光式导光板缺陷提取方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)获取导光板图像F，执行步骤2；(2)根据导光板图像F，提取导光板本体图像H(x,y)，执行步骤3；(3)获取导光板本体图像H(x,y)的宽度M和高度N，执行步骤4；(4)采用稀疏表示方法对导光板本体图像H(x,y)进行缺陷快速检测，得到导光板本体图像H(x,y)的SR值，执行步骤5；(5)若导光板本体图像H(x,y)的SR值大于阈值TH，因此为带缺陷图像，则执行步骤执行步骤6；反之，即为无缺陷图像，则判断导光板为合格品；(6)利用均值滤波去除导光板本体图像H(x,y)中的噪声干扰，得到新图像J(x,y)；执行步骤7；(7)对新...

【技术特征摘要】
1.单边侧入光式导光板缺陷提取方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)获取导光板图像F，执行步骤2；(2)根据导光板图像F，提取导光板本体图像H(x,y)，执行步骤3；(3)获取导光板本体图像H(x,y)的宽度M和高度N，执行步骤4；(4)采用稀疏表示方法对导光板本体图像H(x,y)进行缺陷快速检测，得到导光板本体图像H(x,y)的SR值，执行步骤5；(5)若导光板本体图像H(x,y)的SR值大于阈值TH，因此为带缺陷图像，则执行步骤执行步骤6；反之，即为无缺陷图像，则判断导光板为合格品；(6)利用均值滤波去除导光板本体图像H(x,y)中的噪声干扰，得到新图像J(x,y)；执行步骤7；(7)对新图像J(x,y)进行灰度变换，得到增强后的图像K(x,y)，执行步骤8；(8)对步骤7得到的图像K(x,y)进行OTSU阈值分割，将导光点和背景分割开来，得到前景图像和背景图像；执行步骤9；(9)依据导光点的疏密程度，实现步骤7得到的图像K(x,y)自动分区检测；执行步骤10；(10)遍历前景图像所有导光点区域像素的灰度范围，利用公式计算每一颗导光点灰度值的平均值Gave，式中Ni为第i个导光点的像素总数，Gi为第i个导光点所有像素的灰度总和；执行步骤11；(11)设定最大评判值Gmax和最小评判值Gmin，若Gave＞Gmax，导光板存在亮点，直接判断为不合格品；若Gave＜Gmin，导光板存在暗点，直接判断为不合格品；若Gmin≤Gave≤Gmax，则不存在亮暗点，执行步骤12；(12)对步骤9分区后的图像进行腐蚀操作和膨胀操作，得到形态学处理后的图像，然后执行步骤13；(13)分析步骤12得到的形态学处理后的图像的所有连通域特征，这里计算每一块连通域的面积S，设定判定值Smax；如果存在Si＞Smax，则导光板存在压伤或者异物，直接判断为不合格品；如果所有的Si≤Smax，则执行步骤14；(14)对导光板本体图像H(x,y)进行分割，得到分割后的图像g(x,y)；执行步骤15；(15)遍历分割出的所有区域长度Li(i＝0,1,2,3...N)，设定判别长度标准Lmax，若Li＞Lmax，则导光板存在划痕缺陷，判定为不合格品；若Li≤Lmax，则判定为合格品；(16)对判定为不合格品的导光板，提取导光板的所有缺陷区域，最后借助最小外界矩形，将缺陷区域表示出来，并计算缺陷区域数学特征。2.根据权利要求1所述的单边侧入光式导光板缺陷提取方法，其特征在于，步骤(4)包括以下步骤：输入:导光板本体图像H(x,y)分割成的图像块s，构造得到的字典D'，选择的原子数k；输出:稀疏表示系数X；S1按相同的方法将待检测图像分块，s为其中一块；初始残差r0＝s，索引集∧＝Θ，J＝Θ，迭代次数t＝1；S2计算残差rt与字典D'中原子相关系数u，从中寻找处k个最大...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊峰，李明睿，朱文维，
申请(专利权)人：浙江理工大学，
类型：发明
国别省市：浙江,33