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本申请涉及频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备。在频域介电谱FDS测试之前，测量电介质的温度。将高频信号施加到电介质上，得到电介质在高频信号下的介质损耗参数。根据FDS测试之前测量得到的电介质的温度，以及电介质在高频信号下的介质损耗参数...该专利属于国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院;西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院;西安交通大学授权不得商用。