下载一种晶圆级GaN器件衬底转移方法的技术资料

文档序号:18459904

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种基于晶圆级GaN器件原始衬底的转移方法,属于半导体工艺技术领域。通过在原片表面覆盖一层可去除的较厚保护支撑层,去除原衬底后,两圆片直接键合。该方法包括如下步骤:(1)对晶圆级GaN器件完成正面工艺后的表面覆盖保护支撑层;(2)...
该专利属于北京华碳科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京华碳科技有限责任公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。