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一种晶圆级GaN器件衬底转移方法技术
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文档序号:18459904
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本发明公开一种基于晶圆级GaN器件原始衬底的转移方法,属于半导体工艺技术领域。通过在原片表面覆盖一层可去除的较厚保护支撑层,去除原衬底后,两圆片直接键合。该方法包括如下步骤:(1)对晶圆级GaN器件完成正面工艺后的表面覆盖保护支撑层;(2)...
该专利属于北京华碳科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京华碳科技有限责任公司授权不得商用。
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