温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种光学检测系统及检测方法。在本发明提供的光学检测系统中，通过与显微镜连接的第一分光器对光信号分光，并将波长在第一预设波段内的光信号转换为电信号，再由计算模块根据该第一分光器获取的电信号，计算待测区域处薄膜的特性参数，使得该光学...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司授权不得商用。