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本发明公开了一种基板检测装置和方法，属于显示技术领域。基板检测装置包括：基台和双折射结构；基台包括光源和承载台，承载台用于放置待检测基板，光源用于从待检测基板靠近承载台的一侧照射待检测基板；双折射结构位于待检测基板远离承载台的一侧，且光源与...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司授权不得商用。