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一种基于IC元件的测试机，包括机械系统、测试架、台座、IC测试系统，所述机械系统设置在所述台座左半部，所述测试架设置在所述机械系统内部，所述IC测试系统固定在所述台座右半部，相应部件设置在其内部。本实用新型提供的一种基于IC元件的测试机，采...
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