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公开了一种用于集成电路的测试设备，设有多个温度传感器，温度传感器分布在壳体（1）内的不同位置，用于检查集成电路内的温度,当要测试集成电路的温度时，把采集端口（3）放置在要测试的集成电路的相应位置，打开电源和开关2，传感器会自动将探测的温度传...
该专利属于上海御渡半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海御渡半导体科技有限公司授权不得商用。

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