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单晶硅直径控制法及其设备制造技术
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下载单晶硅直径控制法及其设备的技术资料
文档序号:1830042
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单晶硅直径的一种控制方法,在单晶硅边相对于坩埚转动边受提拉的单晶硅制造过程中,将光学装置测出的提拉单晶的直径测定值与要求直径值进行比较,以确定偏差,再对提出的偏差进行不完全微分PID处理或史密斯法处理,以计算提拉速度,再将提拉速度加到晶体提...
该专利属于日本钢管株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过日本钢管株式会社授权不得商用。
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