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一种半导体测试机构，包括底板、测试主体支架、测试升降板、测试下压板，伺服机电和测针，所述的底板通过直板与测试主体支架相连，所述的测试主体支架上设有凸轮，所述的凸轮与伺服电机相连，所述的测试主体支架上方设有测试升降板，所述的测试升降板通过连杆...
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