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本发明提供一种光学胶折射率测量器件、测量系统及测量方法，所述光学胶折射率测量器件包括：衬底；微纳光纤，位于贴置于所述衬底的上表面，且所述微纳光纤的两端延伸至所述衬底的外侧；光学胶，位于所述衬底的上表面，且固化包覆于所述微纳光纤的外围。本发明...该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学授权不得商用。