下载光学胶折射率测量器件、测量系统及测量方法的技术资料

文档序号:18005722

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种光学胶折射率测量器件、测量系统及测量方法,所述光学胶折射率测量器件包括:衬底;微纳光纤,位于贴置于所述衬底的上表面,且所述微纳光纤的两端延伸至所述衬底的外侧;光学胶,位于所述衬底的上表面,且固化包覆于所述微纳光纤的外围。本发明...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。