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一种芯片测试装置包括一基座、一电路板、一夹持件、若干导电件及至少一定位板，基座包括一支撑件及枢转连接于支撑件的若干盖板，电路板设置在支撑件上且焊盘区朝上，夹持件设置在电路板上，夹持件的顶部设有一定位槽，定位槽内贯穿开设若干正对电路板的焊盘区...
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