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本发明公开了一种跨尺度分辨率的光场图像超分辨率及深度估计方法及装置，其中，方法包括：通过单张图像超分辨率SISR方法进行上采样；将位于中间视角的高分辨率图像下采样后，利用SISR方法进行上采样，并获取误差图；获取视差图并利用光场固有属性对视...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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