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公开了包括物理不可克隆功能和在线测试电路或嵌入式测试电路的硅集成电路，所述在线测试电路包括与所述PUF物理相邻的一个或多个电路部分，并且所述一个或多个电路体现一个或多个测试，该一个或多个测试被执行以确定所述PUF的一个或多个质量性质或以其他...
该专利属于智能IC卡公司所有，仅供学习研究参考，未经过智能IC卡公司授权不得商用。

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