专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
富士电机株式会社
>
半导体装置和半导体装置的制造方法制造方法及图纸
>技术资料下载
下载半导体装置和半导体装置的制造方法的技术资料
文档序号:17961507
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
在碳化硅半导体基体的第一主面侧形成沟槽(16),在碳化硅半导体基体的第一主面侧堆积n型碳化硅外延生长层(2),在n型碳化硅外延生长层的表面设有n型高浓度区域(5)。另外,在n型碳化硅外延生长层(2)的表面选择性地设置第一p型基区(3)和第二...
该专利属于富士电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士电机株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。