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本发明一种图形处理器深度值提前测试电路，包括提前测试的光栅化单元(1)、深度压缩和解压缩单元(2)、深度Tile Cache和深度TileTable Cache单元(3)、存储深度和Tile的Zmin和Zmax的DDR存储器(4)。在深度压...该专利属于中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所授权不得商用。