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本申请涉及用于测量脱空信息的方法、装置及系统，属于勘测检测技术领域。该用于测量脱空信息的方法包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。根据本...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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