用于测量脱空信息的方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请涉及用于测量脱空信息的方法、装置及系统，属于勘测检测技术领域。该用于测量脱空信息的方法包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。根据本申请的用于测量脱空信息的方法、装置及系统、电子设备和计算机可读介质通过探测被检物的反散射信号，能够实现被检物的脱空信息的检测。

Method, device and system for measuring void information

The application relates to a method, device and system for measuring void information, which belongs to the technical field of survey and detection. The method for measuring the void information includes: obtaining the backscatter signal of the subject matter; comparing the anti scattering signal of the detected object to the demarcated backscatter signal, obtaining the signal change information; and obtaining the blank information of the detected object according to the signal change information. The method, device, system, electronic equipment and computer readable medium based on this application are able to detect the missing information of the detected objects by detecting the backscatter signals of the detected objects.

【技术实现步骤摘要】
用于测量脱空信息的方法、装置及系统
本公开涉及勘测检测
，具体而言，涉及一种用于测量脱空信息的方法、装置及系统、电子设备和计算机可读介质。
技术介绍
随着国家经济的迅速发展，我国对能源的需求日益增加，而作为清洁可再生的水利能源得到了迅猛发展。在水电站施工过程中，常会有些混凝土建筑物需要用钢板作里衬。这些以钢板作里衬的混凝土建筑物在进行钢板外围混凝土浇注施工时，由于密集的钢筋网存在，使得操作空间狭小，导致混凝土难以充填密实，特别是在钢板与混凝土结合面容易产生脱空或空洞缺陷。这些脱空和空洞缺陷存在是直接造成钢板里衬在运行时高速水流作业下变形失稳破坏的巨大隐患，将会严重威胁工程运行安全。为了保证工程的安全，就需要一种探测方法去查找脱空或空洞缺陷，确定其范围、大小和深度，为后期的打孔灌浆提供科学依据。现有的用于检测脱空的技术包括红外热像法、电磁雷达法、超声波法、弹性波法和振动法。红外热像法基于远红外线成像，其主要检测材料导热性能的不连续性，通常利用日射产生的温度变化，通过对结构表面的温度成像来推断脱空的有无。但是，红外热像法能检测的脱空深度浅，而且需要在上午和傍晚检测，因此一般用于结构物的外壁检测等。电磁雷达法基于电磁波(电磁雷达)，其主要检测材料诱电性能的不连续性，利用发射的电磁波在不同介质面上的反射来推断脱空的有无。但是，电磁雷达法受金属介质和水的影响很大，而且对空气不敏感，因此仅适合于空洞内有水的检测。此外，电磁雷达法对于细微的接触面脱空检测分辨力很低。超声波法基于超声波，其主要检测材料力学特性的不连续性，利用发射的超声波在不同介质面上的反射来推断脱空的有无。超声波严格来说，该方法也属于弹力波的一类，只是能量小、波长较短。超声波法的分辨力较高，但测试时需要将探头与被测面耦合，测试效率低。此外，由于能量衰减快，受混凝土中骨料、钢筋影响较大，因此，其检测深度浅。弹性波法，该方法与超声波类似，利用激发的弹性波在不同介质面上的反射来推断脱空的有无。弹性波法与超声波相比，激发的能量大，波长较长。因此，该方法的测试深度较超声波法深一个量级。但分辨力较低，受周围边界的影响大。振动法基于振动。该方法利用锤击等方式被测物的自由振动，利用层间粘结条件(边界条件)的变化造成的自振模态的变化来推断脱空的有无。振动法的代表为“打声法”，可以利用声波进行非接触式检测，测试效率高。但该方法的测试深度浅，且对小范围的脱空不敏感。但是，上述现有方法都只是能测出脱空的位置而无法给出脱空的深度(即厚度)。因此，需要一种新的用于测量脱空信息的方法、装置及系统。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本申请公开一种用于测量脱空信息的方法、装置及系统，能够测量脱空信息。本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。根据本公开的一方面，提供一种用于测量脱空信息的方法，包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。根据一些实施例，其中获取被检物的反散射信号通过利用射线源照射所述被检物的脱空缺陷部位获得。根据一些实施例，其中获取被检物的反散射信号包括：对所述被检物进行逐点扫描检测，获取所述被检物的反散射信号。根据一些实施例，其中所述射线源包括X射线源、γ射线源、β射线源、α射线源、中子射线源以及放射性同位素源中的任意一种。根据一些实施例，其中根据所述被检物的性质选择相应种类的射线源。根据一些实施例，其中所述脱空信息包括脱空面积和/或脱空厚度。根据一些实施例，所述方法还包括：获取所述标定的反散射信号。根据一些实施例，其中获取所述标定的反散射信号包括：采用标准的待检样进行标定，获得所述被检物的脱空厚度与所述信号变化信息之间的关系。根据一些实施例，其中获取所述标定的反散射信号包括：根据标准的待检样的参数采用蒙卡模拟计算进行标定，获得所述被检物的脱空厚度与所述信号变化信息之间的关系。根据一些实施例，所述方法还包括：将所述被检物的反散射信号进行处理，生成脱空厚度等高图。根据一些实施例，所述方法还包括：控制射线源的强度控制所述脱空厚度的测量精度；和/或调节准直器的出口缝来控制所述脱空面积的测量精度。根据本公开的另一方面，提供一种用于测量脱空信息的装置，包括：散射信号采集模块，用于获取被检物的反散射信号；信号对比模块，用于将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；脱空信息获得模块，用于根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。根据本公开的又一方面，提供一种用于测量脱空信息的系统，包括：射线源，用于向被检物发射射线；探测器，用于接收所述射线源发射的射线到达所述被检物后反散射回来的反散射信号。根据一些实施例，其中所述探测器采用能量沉积工作模式或者计数工作模式。根据一些实施例，该系统还包括：准直器，用于调整所述射线源发射的射线到达所述被检物的立体角。根据一些实施例，该系统还包括：屏蔽，其设置于所述射线源和所述探测器之间，用于阻挡或部分阻挡所述射线源发射向所述探测器的漏射线和经所述准直器、所述被检物散射向所述探测器的杂散射线。根据一些实施例，其中所述射线源和所述屏蔽之间的夹角处于预设范围之内。根据一些实施例，其中所述预设范围与所述被检物的脱空部位最小尺寸相关。根据一些实施例，该系统还包括：角度调节装置，用于调节所述射线源和所述屏蔽之间的夹角。根据一些实施例，其中所述屏蔽和所述探测器之间的夹角满足预设条件。根据一些实施例，该系统还包括：行走机构，用于载着所述系统相对所述被检物运动，逐点检测所述被检物的脱空部位获得所述被检物的反散射信号。根据一些实施例，该系统还包括：处理装置，用于对所述反散射信号进行处理获得所述被检物的脱空信息。根据一些实施例，其中所述脱空信息包括脱空面积和/或脱空厚度，其中所述处理装置还用于：根据所述被检物的脱空厚度生成脱空厚度等高图。根据本公开的再一方面，提供一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中任一所述的方法。根据本公开的再一方面，提供一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如上述实施例中任一所述的方法。根据本公开的用于测量脱空信息的方法、装置及系统、电子设备和计算机可读介质，能够实现被检物的脱空信息的检测。另外，根据本公开的方案，可以降低用于测量脱空信息的系统的制作的复杂程度与制作的成本，从而实现有效、便捷、低成本的脱空信息检测的目的。附图说明通过参照附图详细描述其示例实施方式，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。图1示出根据本公开一示例实施方式的用于测量脱空信息的方法的流程图；图2示出根据本公开一示例实施方式的用于测量脱空信息的系统的示意图；图3示出根据本公开另一示例实施方式的用于测量脱空信息的系统的示意图；图4示出根据本公开一示例实施方式的脱空厚度与相对信号变化之间的关系曲线图；图5示出根据本公开一示例实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量脱空信息的方法，其特征在于，包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量脱空信息的方法，其特征在于，包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。2.如权利要求1所述的方法，其中获取被检物的反散射信号通过利用射线源照射所述被检物的脱空缺陷部位获得。3.如权利要求1或2所述的方法，其中获取被检物的反散射信号包括：对所述被检物进行逐点扫描检测，获取所述被检物的反散射信号。4.如权利要求2所述的方法，其中所述射线源包括X射线源、γ射线源、β射线源、α射线源、中子射线源以及放射性同位素源中的任意一种。5.如权利要求4所述的方法，其中根据所述被检物的性质选择相应种类的射线源。6.如权利要求1所述的方法，其中所述脱空信息包括脱空面积和/或脱空厚度。7.如权利要求6所述的方法，还包括：获取所述标定的反散射信号。8.如权利要求7所述的方法，其中获取所述标定的反散射信号包括：采用标准的待检样进行标定，获得所述被检物的脱空厚度与所述信号变化信息之间的关系。9.如权利要求7所述的方法，其中获取所述标定的反散射信号包括：根据标准的待检样的参数采用蒙卡模拟计算进行标定，获得所述被检物的脱空厚度与所述信号变化信息之间的关系。10.如权利要求3所述的方法，还包括：将所述被检物的反散射信号进行处理，生成脱空厚度等高图。11.如权利要求6所述的方法，还包括：控制射线源的强度控制所述脱空厚度的测量精度；和/或调节准直器的出口缝来控制所述脱空面积的测量精度。12.一种用于测量脱空信息的装置，其特征在于，包括：散射信号采集模块，用于获取被检物的反散射信号；信号对比模块，用于将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；脱空信息获得模块，用于根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。13.一种用于测量脱空信息的系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：明申金，刘必成，赵自然，阮明，胡斌，邹伟，印炜，林东，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11