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本发明公开了一种测试信号产生方法及装置，包括：在寄存器中为测试数据配置第一组数据信息和第二组数据信息；依据所述第一组数据信息，从内存中读取相应的测试数据并存入缓存中；依据所述第二组数据信息，从所述缓存中读取相应的测试数据并对所述测试数据进行...
该专利属于深圳市中兴微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市中兴微电子技术有限公司授权不得商用。

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