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本发明公开了一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机相连的图像处理器，所述相机的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体外围的反光镜、用于给所述反光镜提供光源的背光板、用于将所述反光镜的反射光折射至所述相机镜头的分光镜...
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