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用于实现超薄晶片级封装(WLP)的封装体的低成本、低轮廓的焊料凸点工艺制造技术
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文档序号:17792045
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本发明公开了一种用于实现超薄晶片级封装(WLP)的封装体的低成本、低轮廓的焊料凸点工艺。具体而言,本文说明了用于浸焊工艺的技术,其提供了低轮廓、低成本的焊料凸点形成工艺,可以实施它以促进封装厚度缩放(例如减小总体封装厚度)。例如,本文公开的...
该专利属于马克西姆综合产品公司所有,仅供学习研究参考,未经过马克西姆综合产品公司授权不得商用。
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