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本实用新型实施例提供一种芯片开短路测试装置及系统，属于芯片测试技术领域。芯片开短路测试装置包括集成电路板、第一保护单元和第二保护单元，集成电路板包括控制单元、第一电压输出单元和第二电压输出单元；其中，第一电压输出单元通过第一保护单元与待测芯...
该专利属于深圳市汇顶科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市汇顶科技股份有限公司授权不得商用。

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