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本发明公开了一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质，该方法包括步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对待检测图像的第一像素点和距离第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后第一像素点的第一像素值；根据第一像...
该专利属于深圳TCL新技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳TCL新技术有限公司授权不得商用。

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