图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质，该方法包括步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对待检测图像的第一像素点和距离第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后第一像素点的第一像素值；根据第一像素值计算第一像素点的多尺度视差值；计算第一像素点的亮度均值；根据多尺度视差值和亮度均值计算出第一像素点的多尺度可觉视差，根据多尺度可觉视差评估第一像素点的Mura缺陷。本发明专利技术克服了人工的检测图像Mura缺陷的弊端，使最终所得的Mura缺陷不带有人为主观认定因素，提高了获取图像Mura缺陷的准确率，以及提高了检测图像Mura缺陷的检测效率。

Image Mura defect evaluation method, system and readable storage medium

The invention discloses a Mura image defect evaluation method, system and computer-readable storage medium, the method comprises the following steps: when access to the liquid crystal display LCD image to be detected after the treatment, the first detection of image pixels and the pixels within a preset range from the first second pixels are filtered, the first pixel of a first pixel the value obtained after treatment; according to the first pixel value of multi-scale disparity computation first pixel value; calculating the mean brightness first pixel; according to the multi-scale disparity values and calculated the mean brightness of multi-scale first pixel McGregor parallax can be based on multiple scales, can be the first Mura parallax pixel defect assessment. The invention overcomes the drawbacks of manual detection of image Mura defects, so that the resulting Mura defects do not have human subjective identification factors, which improves the accuracy of obtaining image Mura defects, and improves the detection efficiency of Mura defects in detecting images.

【技术实现步骤摘要】
图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质
本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种图像Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质。
技术介绍
随着LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)技术的发展，LCD行业的未来和发展越来越受到人们的重视。Mura(斑)是LCD中常见的视觉缺陷，通常表现为低对比度、非均匀亮度区域、边缘模糊等，会给用户造成视觉上的不适感。同时Mura缺陷也是视觉缺陷中最为复杂和最难检测的，Mura缺陷包括点状Mura、线状Mura和块状Mura。目前行业内通常采用经过专业训练的检测人员根据限度样本用人眼比对的方法进行检测，然而这种检测方法不可避免地引入人为主观认定等因素，所得的检测结果准确率低，且检测效率低下。随着技术的发展，研究人员开始利用机器视觉来代替人眼检测，使用高精度的相机在满足一定条件下拍摄LCD的图像，再使用相应的算法来检测图像中Mura缺陷，从而找到LCD上对应的缺陷。但在检测过程中如何高准确率获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一，因此，急需一种可以高准确率评估Mura缺陷的方法。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述图像Mura缺陷评估方法包括以下步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素点的第一像素值；根据所述第一像素值计算所述第一像素点的多尺度视差值；计算所述第一像素点的亮度均值；根据所述多尺度视差值和所述亮度均值计算出所述第一像素点的多尺度可觉视差，根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的斑Mura缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述图像Mura缺陷评估方法包括以下步骤：当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素点的第一像素值；根据所述第一像素值计算所述第一像素点的多尺度视差值；计算所述第一像素点的亮度均值；根据所述多尺度视差值和所述亮度均值计算出所述第一像素点的多尺度可觉视差，根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的斑Mura缺陷。2.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：采用形态学滤波对所述待检测图像执行腐蚀操作和膨胀操作，以得到所述待检测图像中完整的所述Mura缺陷。3.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述根据所述多尺度可觉视差评估所述第一像素点的Mura缺陷的步骤之后，还包括：计算所述Mura缺陷的面积，根据所述面积和所述多尺度可觉视差评估所述Mura缺陷的严重程度。4.如权利要求1所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征在于，所述当获取到液晶显示器LCD的待检测图像后，对所述待检测图像的第一像素点和距离所述第一像素点预设范围内的第二像素点进行滤波处理，得到处理后的所述第一像素值的步骤包括：当获取到LCD的待检测图像后，确定所述待检测图像中的第一像素点，以及距第一像素点预设范围内第二像素点；根据所述第一像素点的第一像素值和所述第二像素点对应的第二像素值计算所述第二像素点的归一化权值；根据所述第一像素值和所述归一化权值计算所述第一像素点经过处理后的第一像素值。5.如权利要求1至4任一项所述的图像Mura缺陷评估方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴佳飞，赖长明，
申请(专利权)人：深圳TCL新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44