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本发明公开了一种基于荧光寿命的薄膜材料热物性测量系统及方法，所述薄膜材料热物性测量系统包括探测光源、加热光源、光子探测器、时间相关单光子计数器和计算单元；探测光源用来照射薄膜样品以对薄膜样品进行荧光激发；加热光源用来照射薄膜样品以对薄膜样品...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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