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一种基片式FBG温度增敏传感器及性能测试方法技术
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文档序号:17702493
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本发明公开了一种基片式应变解耦FBG温度增敏传感器,包括基片、第一固定耳和第二固定耳,所述第一固定耳焊接在基片上端的右侧,且第二固定耳焊接在基片下端的右侧;所述基片上开设有基片槽,基片槽用于放置FBG;一种基片式应变解耦FBG温度增敏传感器...
该专利属于北京信息科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京信息科技大学授权不得商用。
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