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本发明涉及高压物性及薄膜材料特性测量领域，一种高压低温条件下的多层薄膜电磁特性的测量方法，将垫圈置于垫圈架上，用银胶将四根金线的外侧一端分别与四个电极相固定、内侧一端分别与样品的四个角位置处的导电层固定；将圆柱凸台加热到约60摄氏度，推动样...
该专利属于金华职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过金华职业技术学院授权不得商用。

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