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本发明涉及辐射测量技术领域，具体公开了一种基于反符合技术的β测量装置，包括反符合探测器和主探测器，所述的主探测器与反符合探测器并列相邻设置，两者的底端共面。本发明装置中的反符合探测器由于存在铝屏蔽体，可以测量到单一的γ射线的信号，而主探测器...
该专利属于中核控制系统工程有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中核控制系统工程有限公司授权不得商用。

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