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本发明涉及一种具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备，具有微控制单元的电子测温设备处于恒温的预置测试环境温度中，其中，该自动校准设备的自动校准方法包括：(1)电子测温设备以内置的基准电阻的当前理论基准振荡次数XRF为依据，确定当前...
该专利属于无锡华润矽科微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润矽科微电子有限公司授权不得商用。

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