具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备技术

本发明专利技术涉及一种具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备，具有微控制单元的电子测温设备处于恒温的预置测试环境温度中，其中，该自动校准设备的自动校准方法包括：(1)电子测温设备以内置的基准电阻的当前理论基准振荡次数XRF为依据，确定当前测试电阻的测试振荡次数XRS；(2)微控制单元根据如下方程组进行计算：

【技术实现步骤摘要】
具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备
本专利技术涉及自动校准领域，尤其涉及电子测温设备中自动校准领域，具体是指一种具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备。
技术介绍
现有技术中的电子测温设备中，如电子体温计，在生产时，都是采用一个基准电阻和热敏电阻相比较，来测试人体的温度，既然是基准电阻和热敏电阻，就势必有误差，即使再高精度的电阻，因为工艺原因和PCB版的原因，也会有误差，误差会引起测试误差，而体温计的制造标准是精度要为±0.1℃，例如一个人的体温是36.7℃，但是实际测试为36.9℃或者是36.5℃，那么就超出制造标准，这款产品就是不合格的，目前所有的体温计生产厂商在生产时，遇到体温计的精度超出制造标准时，采用的方法是替换基准电阻或者是测试电阻，即热敏电阻的方法来进行调整，一次到多次电阻替换后，测量的精度满足制造标准为止，此种方法确实是有效可行的，但是，这种技术，无形中增加了生产的成本，降低了生产效率。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种效率高，成本低的具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法及设备。为了实现上述目的，本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法，所述的具有微控制单元的电子测温设备处于恒温的预置测试环境温度中，其特征在于，所述的自动校准方法具体包括以下步骤：(1)所述的电子测温设备以内置的基准电阻的当前理论基准振荡次数XRF为依据，确定当前测试电阻的测试振荡次数XRS；(2)所述的微控制单元根据如下方程组进行计算：

【技术特征摘要】
1.一种具有微控制单元的电子测温设备的自动校准方法，所述的具有微控制单元的电子测温设备处于恒温的预置测试环境温度中，其特征在于，所述的自动校准方法具体包括以下步骤：(1)所述的电子测温设备以内置的基准电阻的当前理论基准振荡次数XRF为依据，确定当前测试电阻的测试振荡次数XRS；(2)所述的微控制单元根据如下方程组进行计算：其中，所述的A与C均为已知常数，A为所述的基准电阻在无误差时，在所述的预置的测试环境温度中对应的理论振荡次数区间中的理论基准振荡次数，C为所述的基准电阻在无误差时，在所述的预置的测试环境温度中对应的理论振荡次数区间中的中间值，即所述的基准电阻在无误差时，在所述的预置的测试环境温度中对应最佳理论基准振荡次数，X’RS为实际校准过程中所述的测试电阻的实际振荡次数，该测试电阻的实际振荡次数X’RS为步骤(1)中所述的当前测试电阻的测试振荡次数XRS，X’RF为实际校准过程中所述的基准电阻的实际振荡次数，RRF为所述的基准电阻的理论阻值，RRS为所述的测试电阻的理论阻值，R’RF为所述的基准电阻的实际阻值，R’RS为所述的测试电阻的实际阻值；所述的基准电阻的实际振荡次数等于所述的测试电阻的实际振荡次数，即：X′RS＝X′RF；(3)通过上述步骤(2)的方程组求出所述的基准电阻的实际振荡次数X’RF：(4)用所述的基准电阻的实际振荡次数X’RF替换所述的系统内置的基准电阻的当前理论基准振荡次数XRF，将X’RF作为新的当前理论基准振荡次数存入所述的微控制单元，完成所述的电子测温设备的校准...

【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，
申请(专利权)人：无锡华润矽科微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32