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本发明涉及带对准分析的成像设备，更具体地涉及一种利用指向目标的测量区的成像设备，其中该成像设备可以结合未对准分析特征而使用。该成像设备可以在不同的时间采集第一图像和第二图像。可对第一图像与第二图像进行比较，例如通过对成像设备在第一图像中的测...
该专利属于弗兰克公司所有，仅供学习研究参考，未经过弗兰克公司授权不得商用。

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