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公开了用于验证集成电路，尤其是由其构成的片上系统的改进的方法和结构。我们的方法——我们称为快速错误检测——硬件(QED‑H)——有利地快速检测和修复SoC硬件部件内的异常(漏洞)——并且特别地定制的不必是软件可编程的SoC硬件部件。进一步有...该专利属于小利兰·斯坦福大学理事会;伊利诺斯大学理事会所有，仅供学习研究参考，未经过小利兰·斯坦福大学理事会;伊利诺斯大学理事会授权不得商用。