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本发明涉及食品检测技术领域，为克服现有的国家标准测定整精米率步骤多和仪器参数调节的难度,易使数据难重复的问题，提供一种预测中长型糙米的整精米率方法，通过取样，净谷，脱壳，随机取20粒饱满完整糙米粒测定其外观形态品质（包括粒长、粒宽、长宽比、...
该专利属于中国水稻研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国水稻研究所授权不得商用。

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