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本发明涉及一种用于确定半导体电路故障的导轨(117)组件(100)，其中，所述导轨(117)优选地布置在半导体电路的层上，其特征在于，所述组件(100)包括多个区段(112,113,114,115,116)，其中，所述区段(112,113,...
该专利属于罗伯特·博世有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗伯特·博世有限公司授权不得商用。

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