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本发明公开了一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置，该方法包括以下步骤：S1、将环件和超声相控阵探头均置于收集槽内，探头与环件外圆面之间设有一定提离距离；S2、检测环件近外圆面的内部缺陷：设置探头的聚焦深度为环件壁厚δ的一半，开始检测，...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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