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本实用新型公开了一种测试探针，属于芯片测试领域，为解决现有探针阻抗稳定性差而设计。本实用新型公开的测试探针包括筒状针保持体、弹簧和下探针头；所述筒状针保持体的上端一体成型有上探针头部，所述筒状针保持体的内部中空以形成下端开口的容纳腔；所述下...
该专利属于上海捷策创电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海捷策创电子科技有限公司授权不得商用。

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