温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种辐射检查系统，包括：辐射成像装置；以及控制装置，用于控制辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制辐射成像装置使用第二扫描模式对被检...
该专利属于北京君和信达科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京君和信达科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。