下载一种具有渐变深槽的屏蔽栅MOS结构的技术资料

文档序号:17470445

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本发明提出一种具有渐变深槽的屏蔽栅MOS结构,其特征在于,所述沟槽的形状为倒梯形,且分为上下两部分,上部分包括倒梯形栅极导电多晶硅和位于倒梯形栅极导电多晶硅两侧的栅氧化层,下部分包括厚氧化层及厚氧化层包裹的倒梯形屏蔽栅;本发明提出的屏蔽栅M...
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