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本发明涉及半导体产品质量管理系统及其方法以及汽车。在从显现故障的半导体装置接收到第一ID信息的情况下，半导体产品质量管理服务器基于使用第一ID作为关键字从半导体制造历史信息DB提取的制造历史信息来提取包含相同类型的故障显现风险的第二ID列表...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。

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