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一种用于测试半导体器件的装置包括插入物，其包括其中接收半导体器件的容纳部以及形成在容纳部底表面上的开口部分；测试插座，其具有用于将半导体器件电连接至测试器的多个连接端子；以及设置在插入物和测试插座之间的内插器，其将半导体器件电连接至测试插座...
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