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一种半导体晶圆的温度控制方法技术
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文档序号:17443350
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本发明公开了一种半导体晶圆的温度控制方法,对被树脂片或者粘合带覆盖的半导体晶圆进行冷却其特征在于,包括以下步骤:(1)在半导体晶圆降温阶段,根据所进行的工艺种类的不同,将温度降低到高低不同的温度区间并稳定;并且,根据不同工艺种类对氧含量要求...
该专利属于合肥新汇成微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥新汇成微电子有限公司授权不得商用。
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