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提供X射线透射检查装置，其能够容易地进行基于标准试样的调整。该X射线透射检查装置具有：X射线源(2)，其对试样S1照射X射线；试样移动机构，其在来自X射线源的X射线的照射中使试样向特定方向连续移动；X射线检测器(4)，其相对于试样设置于与X...
该专利属于日本株式会社日立高新技术科学所有，仅供学习研究参考，未经过日本株式会社日立高新技术科学授权不得商用。

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