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本实用新型提供了一种老化测试板上的插槽结构以及老化测试板，应用于闪存芯片的测试，第一芯片与第二芯片引脚的数量、设置位置以及间隔相同，其中，包括：插槽本体；凹槽，开设于插槽本体中；一对第一台阶，对称的设置于凹槽的两侧，一对第一台阶上设置有与第...
该专利属于武汉新芯集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉新芯集成电路制造有限公司授权不得商用。

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