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本公开涉及用于测试晶圆的探针卡。一种用于测试晶圆的探针卡，包括：探针尖，用于接触晶圆；以及施加装置，用于将清洁液施加到所述探针尖上。...
该专利属于德淮半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德淮半导体有限公司授权不得商用。

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